首页 > 资料专栏 > 标准 > 行业标准 > 地方标准 > DB32∕T_2964-2016稻麦生长指标无损监测诊断技术规程PDF

DB32∕T_2964-2016稻麦生长指标无损监测诊断技术规程PDF

changya***
V 实名认证
内容提供者
热门搜索
诊断技术 诊断规程
资料大小:304KB(压缩后)
文档格式:PDF
资料语言:中文版/英文版/日文版
解压密码:m448
更新时间:2022/5/17(发布于山东)

类型:积分资料
积分:10分 (VIP无积分限制)
推荐:升级会员

   点此下载 ==>> 点击下载文档


文本描述
ICS 65.020.20B22DB32备案号:51411-2016江苏省地方标准DB32/T 2964-2016稻麦生长指标无损监测诊断技术规程Technical Specification for Crop Growth Index Non-destructive Monitoringand Diagnosis2016-09-20发布2016-11-20实施发布江苏省质量技术监督局DB32/T 2964-2016前 言本标准在编写结构、格式和编辑方法等方面符合GB/T 1.1-2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写规则》的规定编写。本标准由南京农业大学提出。本标准由南京农业大学、江苏智慧农业技术有限公司起草。本标准主要起草人:曹卫星,倪军,朱艳,田永超,姚霞,刘小军,马吉锋DB32/T 2964-2016稻麦生长指标无损监测诊断技术规程1范围本标准规定了稻麦生长指标无损监测诊断的术语、缩略语、适用范围、设备、设备安装、测量方法、现场检测及质量评定等内容。本标准适用于稻麦冠层归一化植被指数、比值植被指数、叶面积指数、叶层氮含量、叶层氮积累量、叶干重无损监测诊断。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 2900.90-2012电工术语电工电子测量和仪器仪表GB 4208-2008外壳防护等级(IP代码)GB/T 6593-1996电子测量仪器质量检测规则GB 11463-1989电子测量仪器可靠性试验GB/T 25392-2010农业工程电气和电子设备对环境条件的耐久试验NY 525-2012有机肥料NY/T 653-2002农业电子信息产品通用技术条件农业应用软件产品3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1稻麦生长指标无损监测通过对稻麦冠层特征光谱反射率实时、快速测量,定量化获取稻麦叶层氮含量(单位:%)、叶层2 2氮积累量(单位:g/m)、叶面积指数和叶干重(单位:kg/m)等生长指标。3.2稻麦生长诊断基于养分平衡原理,根据监测的稻麦氮积累量数据,通过运行植株适宜氮积累量模型,精确设计稻麦生长后期适宜追氮量。4缩略语NDVI:Normalized Difference Vegetation Index,归一化植被指数;RVI:RatioVegetation Index)比值植被指数;LAI:Leaf Area Index,叶面积指数;LNC:Leaf Nitrogen Content,叶层氮含量;LNA:Leaf Nitrogen Accumulation,叶层氮积累量;LDW:Leaf Dry Weight,叶干重。1DB32/T 2964-20165基本规定5.1监测内容稻麦生长指标无损监测内容应包括稻麦冠层NDVI、RVI、LAI、LNC、LNA、LDW。5.2诊断内容稻麦生长指标无损诊断内容包括判断稻麦氮素盈亏,计算追氮量。5.3质量要求5.3.1 NDVI测量范围:-0.99~0.99。5.3.2 RVI测量范围:≥ 0.01。5.3.3 LNC测量范围:0~5.5%。5.3.4 LNA测量范围:0~30g/m。25.3.5 LAI测量范围: 0~11.0。5.3.6 LDW测量范围:0~1.5kg/m2。6设备6.1设备组成稻麦生长指标无损监测诊断设备应包括多光谱传感器、采集器及附属机构。6.2多光谱传感器6.2.1多光谱传感器从结构上分为上行光传感器和下行光传感器。上行光传感器用于接收太阳辐射光信息,下行光传感器用于接收作物冠层反射光信息。6.2.2性能参数上行光传感器:余弦接收(具有太阳光入射天顶角余弦校正);平板型毛玻璃余弦校正,透过率 75%;下行光传感器:视场角 30;o通道数量:2通道;反应波段:720nm,810nm;光谱带宽:≤10nm;光学感应器:1.6mm硅光二极管;2传输线(标准):RVVP屏蔽电缆;接头(标准):小型3针母头;工作温度:0~65C;o工作湿度:0~85%RH;NDVI测量相对误差:≤15%;RVI测量误差:≤15%;LNC测量误差:≤15%;LNA测量误差:≤18%;LAI测量误差:≤15%;2