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MBA毕业论文_智能微芯片封装测试库存控制方法的研究(63页).rar

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更新时间:2018/8/28(发布于广东)

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文本描述
摘 要
半导体制造是一个资金高度密集、流程高度复杂的加工过程。随着
市场的迅速发展,IC 封装技术和工艺也不断更新换代。集成电路制造系
统是目前公认的最为复杂的制造系统,而 IC 封装生产系统又是其中相对
复杂的部分,因为相比较圆片制造过程而言,其还存在生产批量的分解、
合并等等问题。

目前智能微芯片封装技术正朝着低功耗、小尺寸、高速度、高集成
度方向发展,新型的封装设计、封装工艺、封装设备不断涌现,未来几
年,智能微芯片封装测试企业面临的外部环境的竞争也将愈演愈烈。这
对生产线的产能平衡和生产计划与控制等提出了更高的要求,而且,集
成电路的生产制造需要巨大的资金投入,主要包括设备和原材料,再加
上设备的生产能力对于混合产品的生产比较敏感。

因此,在集成电路制造企业中,如何安排最改善的生产计划以提高
设备的利用率、降低库存和制造周期,就成为了一个非常困难的过程,
但同时也成为企业保证其竞争优势的极具挑战性的工作任务。

本文试图通过目前集成电路制造的先进方向,结合精益生产的理论
与方法,对智能微芯片封装企业的生产计划及精益生产进行研究并提出
切实可行的改进方法。本文以拉动式生产为改善库存控制的基础,结合
通知系统设计以及团队解决模式,在智能微芯片封装测试企业中使用集
成电路设计中的体系及管理方法,并在企业中进行了实际应用。最后对
实际应用结果,以企业关键指标变化作为依据进行分析,确定了库存指
标及客户满意度指标的改进方法。

关键词:智能微芯片,封装测试,库存控制,精益生产