ICS31.21 20.0 L23 中华人民共和国国家标准 GB/T505.59—00/01-59:20 92022IEC6522-08 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰 Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment— Basictestingproceduresandmeasuringmethods— Part25-9:Signalintegritytests— Test25i:Aliencros sstalk (9:— IEC60512-25-2008,Connectorsforelectronicequipment Testsandmeasurements—Part25-9:Signalintegritytests— Tet25AlertlIDT) si:incos ssak, 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布 GB/T505.59—00/01-59:20 92022IEC6522-08 目次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ 1范围和目的 ……………………………………………………………………………………………… 1 2规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1 3术语和定义 ……………………………………………………………………………………………… 1 4概述 ……………………………………………………………………………………………………… 2 1程序 ………………………………………………………………………………………………… 2 4. 2试验条件 …………………………………………………………………………………………… 3 5总体试验配置 …………………………………………………………………………………………… 3 5.………………………………………………………………………………………………… 3 4. 1总则 5.………………………………………………………………………………………………… 4 2终端 5.…………………………………………………………………………………… 3试验连接器线对 4 6自一个连接器至另一连接器的外来串扰试验程序 …………………………………………………… 5 6.………………………………………………………………………………………………… 5 1校准 6.噪声 )……………………………………………………………………………… 6 2测量 (最低标准 6.……………………………………………………………………………………… 6 3外来串扰测量 7外来串扰显著性确定程序 ……………………………………………………………………………… 7 8相关详细规范应规定的细则 …………………………………………………………………………… 7 9功率和计算、报告和试验记录文件 ………………………………………………………………………7 附录 A(资料性附录 )获取外来串扰性能数据的流程图 ………………………………………………8 附录 B(资料性附录 )外来串扰试验采用的同轴开关实例 ……………………………………………9 参考文献 …………………………………………………………………………………………………… 13GB/T505.59— 00/ 01-59:20 92022IEC6522-08 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T5095的第 25部分为信号完整性试验 ,已经发布或计划发布的部分如下 : ———第25-1部分 :试验 25a:串扰比 ; ———第25-2部分 :试验 25b:衰减 (插入损耗 ); ———第25-3部分 :试验 25c:上升时间衰减 ; ———第25-4部分 :试验 25d:传输时延 ; ———第25-5部分 :试