ICS31.21 20.0 L23 中华人民共和国国家标准 GB/T505.56—00/01-56:20 92022IEC6522-04 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动 Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment— Basictestingproceduresandmeasuringmethods— Part25-6:Test25f:Eyepat tternandjit tter ( IEC60512-25-6:2004,Connectorsforelectronicequipment—Testsand meauemet—Pr-Tsf:Eyepenadjit ttr, srnsat256:et25at ttrneIDT) 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布 GB/T505.56—0001-56:20 92022/IEC6522-04 目次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅰ 1总则 ……………………………………………………………………………………………………… 1 1范围和目的 ………………………………………………………………………………………… 1.1 2术语和定义 ………………………………………………………………………………………… 2试验设施 ………………………………………………………………………………………………… 1 1.1 2.1设备 ………………………………………………………………………………………………… 1 2.2装置 ………………………………………………………………………………………………… 1 3试验样品 ………………………………………………………………………………………………… 2 3.………………………………………………………………………………………………… 2 1说明 4试验程序 ………………………………………………………………………………………………… 2 1总则 ………………………………………………………………………………………………… 4.2 2眼图 ………………………………………………………………………………………………… 4.2 3抖动 ………………………………………………………………………………………………… 5相关标准应规定的细则 ………………………………………………………………………………… 3 6试验记录文件 ……………………………………………………………………………………………4 附录 A(规范性附录 )样品终端示意图 …………………………………………………………………5 附录 B(资料性附录 )眼图诠释 ———实用指南 ………………………………………………………… 7 4.3 GB/T505.56—0001-56:20 92022/IEC6522-04 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T5095的第 25部分为信号完整性试验 ,已经发布或计划发布的部分如下 : ———第25-1部分 :试验 25a:串扰比 ; ———第25-2部分 :试验 25b:衰减 (插入损耗 ); ———第25-3部分 :试验 25c:上升时间衰减 ; ———第25-4部分 :试验 25d:传输时延 ; ———第25-5部分 :试验 25e:回波损耗 ; ———第25-6部分 :试验 25f:眼图和抖动 ; ———第25-7部分 :试验 25g:阻抗、反射系数和电压驻波比 (VSWR); ———第25-9部分 :信号完整性试验试验 25i:外来串扰。 本部分为 GB/T5095的第 25-6部分。 本部分按照 GB/T1.—2009给出的规则起草。 1 本部分使用翻译法等同采用 IEC605。。。。。。以下内容略